| 标题 | 基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的研究设计分析 |
| 范文 | 贾应炜 摘 要： 基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计研究对改善当前ATE的高成本、性能浪费等现象有积极意义。基于ISO14443A协议，利用RFID集成电路芯片设计了一个系统，从软硬件两个方面进行设计调试，并配合优化方案解决设计问题，最终结果表明设计系统运行效果佳，稳定性好，对于工业集成电路芯片测试系统的研究有一定价值。 关键词： 集成电路芯片测试系统； 设计； ISO14443A协议； RFID集成电路 中图分类号： TN06?34 文献标识码： A 文章编号： 1004?373X（2014）17?0097?03 Abstract： Design of RFID integrated circuit chip testing system based on ISO14443A protocol has a positive significance for eliminating the high cost and performance waste phenomena of current ATE. A system was designed by means of ISO14443A protocol and RFID integrated circuit chip. In the design process， the design debugging of the hardware and software was conducted， and some design problems were solved by the aid of the optimization scheme. The final results show that the system works well and has high stability. It has a certain value for the research of the industry integrated circuit chip testing system. Keywords： IC chip test system； design； ISO14443A protocol； RFID integrated circuit 0 引 言 随着国内IC行业的迅速崛起与发展，集成电路自动测试机（Automatic Test Equipment，ATE）的生产与发展也逐步壮大。作为测试器件、电路板和子系统的重要设备，ATE通过计算机控制实现自身职能。目前主要使用的测试系统是UF200探针台加V50带RFID测试模块，虽然系统高集成测试功能较为强大，但是也带来了操作设置复杂化、性能设置浪费等情况。为降低测试成本，研发低成本、单独实用性更强的测试系统成为必需，尤其是针对某类单一芯片的功能测试，成为企业研发的主流。下面分析基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计。 1 系统整体上设计方案 整体测试系统包括软硬件两部分，硬件部分较为简单，以RS 485通信模块、单片控制模块与Reader Chip（RC522）等为主，具体如图1所示。软件部分以上位机控制程序、CPIB扫描驱动、串口通讯及芯片初始化的传递设置为主。 5 结 语 基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计改善当前ATE的高成本、性能浪费等现象有积极意义。本文基于ISO14443A协议，利用RFID集成电路芯片设计了一个系统，通过对硬件系统和软件系统的调试配合程序优化最终完成了设计目标，实现了系统稳定性好、速度快、成本低等多个目标，目前已经在工业中广泛应用。本次设计经过验证确定实际性能较佳，对集成电路芯片测试系统的研究有一定意义。 参考文献 [1] 宋尚升.集成电路测试原理和向量生成方法分析[J].现代电子技术，2014，37（6）：56?58. [2] 李柯逊.浅谈集成电路静电损害及防护措施[J].电子设计工程，2014（7）：227?228. [3] 张鹏辉.多管芯并行测试的熔丝修调方法探索[J].电子与封装，2014（1）：35?39. [4] 李涛，余志平.考虑制程变异的全芯片漏电流统计分析[J].清华大学学报：自然科学版，2009（4）：578?580. [5] 李彩红.无线射频识别（RFID）芯片技术[J].现代电子技术，2007，30（11）：56?58. [6] 张路路.基于PCI总线集成电路测试仪接口设计[J].现代电子技术，2012，35（12）：66?68. 摘 要： 基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计研究对改善当前ATE的高成本、性能浪费等现象有积极意义。基于ISO14443A协议，利用RFID集成电路芯片设计了一个系统，从软硬件两个方面进行设计调试，并配合优化方案解决设计问题，最终结果表明设计系统运行效果佳，稳定性好，对于工业集成电路芯片测试系统的研究有一定价值。 关键词： 集成电路芯片测试系统； 设计； ISO14443A协议； RFID集成电路 中图分类号： TN06?34 文献标识码： A 文章编号： 1004?373X（2014）17?0097?03 Abstract： Design of RFID integrated circuit chip testing system based on ISO14443A protocol has a positive significance for eliminating the high cost and performance waste phenomena of current ATE. A system was designed by means of ISO14443A protocol and RFID integrated circuit chip. In the design process， the design debugging of the hardware and software was conducted， and some design problems were solved by the aid of the optimization scheme. The final results show that the system works well and has high stability. It has a certain value for the research of the industry integrated circuit chip testing system. Keywords： IC chip test system； design； ISO14443A protocol； RFID integrated circuit 0 引 言 随着国内IC行业的迅速崛起与发展，集成电路自动测试机（Automatic Test Equipment，ATE）的生产与发展也逐步壮大。作为测试器件、电路板和子系统的重要设备，ATE通过计算机控制实现自身职能。目前主要使用的测试系统是UF200探针台加V50带RFID测试模块，虽然系统高集成测试功能较为强大，但是也带来了操作设置复杂化、性能设置浪费等情况。为降低测试成本，研发低成本、单独实用性更强的测试系统成为必需，尤其是针对某类单一芯片的功能测试，成为企业研发的主流。下面分析基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计。 1 系统整体上设计方案 整体测试系统包括软硬件两部分，硬件部分较为简单，以RS 485通信模块、单片控制模块与Reader Chip（RC522）等为主，具体如图1所示。软件部分以上位机控制程序、CPIB扫描驱动、串口通讯及芯片初始化的传递设置为主。 5 结 语 基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计改善当前ATE的高成本、性能浪费等现象有积极意义。本文基于ISO14443A协议，利用RFID集成电路芯片设计了一个系统，通过对硬件系统和软件系统的调试配合程序优化最终完成了设计目标，实现了系统稳定性好、速度快、成本低等多个目标，目前已经在工业中广泛应用。本次设计经过验证确定实际性能较佳，对集成电路芯片测试系统的研究有一定意义。 参考文献 [1] 宋尚升.集成电路测试原理和向量生成方法分析[J].现代电子技术，2014，37（6）：56?58. [2] 李柯逊.浅谈集成电路静电损害及防护措施[J].电子设计工程，2014（7）：227?228. [3] 张鹏辉.多管芯并行测试的熔丝修调方法探索[J].电子与封装，2014（1）：35?39. [4] 李涛，余志平.考虑制程变异的全芯片漏电流统计分析[J].清华大学学报：自然科学版，2009（4）：578?580. [5] 李彩红.无线射频识别（RFID）芯片技术[J].现代电子技术，2007，30（11）：56?58. [6] 张路路.基于PCI总线集成电路测试仪接口设计[J].现代电子技术，2012，35（12）：66?68. 摘 要： 基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计研究对改善当前ATE的高成本、性能浪费等现象有积极意义。基于ISO14443A协议，利用RFID集成电路芯片设计了一个系统，从软硬件两个方面进行设计调试，并配合优化方案解决设计问题，最终结果表明设计系统运行效果佳，稳定性好，对于工业集成电路芯片测试系统的研究有一定价值。 关键词： 集成电路芯片测试系统； 设计； ISO14443A协议； RFID集成电路 中图分类号： TN06?34 文献标识码： A 文章编号： 1004?373X（2014）17?0097?03 Abstract： Design of RFID integrated circuit chip testing system based on ISO14443A protocol has a positive significance for eliminating the high cost and performance waste phenomena of current ATE. A system was designed by means of ISO14443A protocol and RFID integrated circuit chip. In the design process， the design debugging of the hardware and software was conducted， and some design problems were solved by the aid of the optimization scheme. The final results show that the system works well and has high stability. It has a certain value for the research of the industry integrated circuit chip testing system. Keywords： IC chip test system； design； ISO14443A protocol； RFID integrated circuit 0 引 言 随着国内IC行业的迅速崛起与发展，集成电路自动测试机（Automatic Test Equipment，ATE）的生产与发展也逐步壮大。作为测试器件、电路板和子系统的重要设备，ATE通过计算机控制实现自身职能。目前主要使用的测试系统是UF200探针台加V50带RFID测试模块，虽然系统高集成测试功能较为强大，但是也带来了操作设置复杂化、性能设置浪费等情况。为降低测试成本，研发低成本、单独实用性更强的测试系统成为必需，尤其是针对某类单一芯片的功能测试，成为企业研发的主流。下面分析基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计。 1 系统整体上设计方案 整体测试系统包括软硬件两部分，硬件部分较为简单，以RS 485通信模块、单片控制模块与Reader Chip（RC522）等为主，具体如图1所示。软件部分以上位机控制程序、CPIB扫描驱动、串口通讯及芯片初始化的传递设置为主。 5 结 语 基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计改善当前ATE的高成本、性能浪费等现象有积极意义。本文基于ISO14443A协议，利用RFID集成电路芯片设计了一个系统，通过对硬件系统和软件系统的调试配合程序优化最终完成了设计目标，实现了系统稳定性好、速度快、成本低等多个目标，目前已经在工业中广泛应用。本次设计经过验证确定实际性能较佳，对集成电路芯片测试系统的研究有一定意义。 参考文献 [1] 宋尚升.集成电路测试原理和向量生成方法分析[J].现代电子技术，2014，37（6）：56?58. [2] 李柯逊.浅谈集成电路静电损害及防护措施[J].电子设计工程，2014（7）：227?228. [3] 张鹏辉.多管芯并行测试的熔丝修调方法探索[J].电子与封装，2014（1）：35?39. [4] 李涛，余志平.考虑制程变异的全芯片漏电流统计分析[J].清华大学学报：自然科学版，2009（4）：578?580. [5] 李彩红.无线射频识别（RFID）芯片技术[J].现代电子技术，2007，30（11）：56?58. [6] 张路路.基于PCI总线集成电路测试仪接口设计[J].现代电子技术，2012，35（12）：66?68. |
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